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武汉凌久微电子取得一种用于显卡测试的散热器结构专利，实现了该散热器结构对各种类显卡测试的通用性:散热器
国家知识产权局信息显示，武汉凌久微电子有限公司取得一项名为“一种用于显卡测试的散热器结构”的专利，授权公告号CN223598197U，申请日期为2024年12月散热器。专利摘要显示，本实用新型涉及
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国家知识产权局信息显示，武汉凌久微电子有限公司取得一项名为“一种用于显卡测试的散热器结构”的专利，授权公告号CN223598197U，申请日期为2024年12月散热器。专利摘要显示，本实用新型涉及